基于干擾物和待測物與反應池氣體反應速率的不同，化學反應為待測物和干擾物的分離提供了有效的途徑。然而，常規(guī)的四極桿 ICP-MS 只有一個質量選擇步驟，即位于碰撞反應池后面的四極桿質量分析器，這意味著它無法阻止樣品（等離子體、溶劑等）中的離子進入碰撞反應池，因此，常規(guī)單四極桿 ICP-MS的化學反應過程是無法控制的。事實上這意味著：

1、來自基質或等離子體的離子（或其他分析物）與反應池氣體會發(fā)生反應形成新的產物離子。這些離子與被分析物的質量數產生重疊，包括分析物的原位質量數，和其產物離子質量數。

2、與反應池氣體反應緩慢（或根本不反應）的現(xiàn)有離子質量數不變，并且可能與分析物產物離子在該質量數產生重疊。

而Agilent 8900使用串聯(lián)質譜技術，兩個四極桿（Q1和 Q2）分別位于ORS4 碰撞反應池前后。第一個四極桿（反應池前面）用于控制進入反應池并發(fā)生反應的離子。第二個四極桿（反應池后面）使分析物離子或其產物離子被精準篩選后進入檢測器。這種兩級質量篩選（MS/MS) 是 ICP-MS/MS 對干擾控制更佳的根本原因。

通過案例常見元素鈣（Ca)和鈦（Ti）對硫（S）分析的影響，展示使用“單四極桿”操作和MS/MS模式時反應氣方法間的性能差異。在測定中使用典型的氧氣質量轉移模式，S+與o2反應池氣體快速反應，形成了SO+產物離子，質量數M+16,從而避免在質量數32、33和34處對S同位數的多原子重疊。在MS/MS模式下展示SO+的同位素模式，該模式下采用MS/MS測定了10ppb的S標準品，與5%異丙醇、1ppm Ca和1ppm Ti重疊。IPA、Ca和Ti基質對S的測定信號影響極小，S質譜峰的豐度與其理論同位素豐度相匹配，表明共存的 C、Ca 和 Ti 不干擾測定。相比之下，在“單四極桿”模式下，ArC+、Ca+和Ti+離子不能在進入反應池前被排除，所以它們仍出現(xiàn)在質譜圖中，導致干擾了所有SO+產物離子的測定，展示了較差的同位素模板匹配以及 ArC+、Ca+ 和 Ti+ 與 SO+ 的離子重疊。